東芝推出適用于半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備中高頻信號(hào)開(kāi)關(guān)的小型光繼電器

 行業(yè)動(dòng)態(tài)     |      2023-10-18 09:43:33    |      作者

東芝電子元件及存儲(chǔ)裝置株式會(huì)社(“東芝”)近日宣布,推出采用小巧纖薄的WSON4封裝的光繼電器“TLP3475W”。它可以降低高頻信號(hào)中的插入損耗,并抑制功率衰減[1],適用于使用大量繼電器且需要實(shí)現(xiàn)高速信號(hào)傳輸?shù)?em>半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備的引腳電子器件。該產(chǎn)品于近日開(kāi)始支持批量出貨。

TLP3475W采用了東芝經(jīng)過(guò)優(yōu)化的封裝設(shè)計(jì),這有助于降低新型光繼電器的寄生電容和電感。降低插入損耗的同時(shí)還可將高頻信號(hào)的傳輸特性提高到20GHz(典型值)[2]——與東芝現(xiàn)有產(chǎn)品TLP3475S相比,插入損耗降低了約1/3[2]。

TLP3475W采用厚度僅為0.8mm(典型值)的小巧纖薄的WSON4封裝,是目前業(yè)界最小的[3]光繼電器,其成功的改善了高頻信號(hào)傳輸特性。它的厚度比東芝的超小型S-VSON4T封裝還薄40%,且支持在同一電路板上貼裝更多產(chǎn)品,將有助于提高測(cè)量效率。

東芝將繼續(xù)擴(kuò)大其產(chǎn)品線,為更高速和更強(qiáng)大功能的半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備提供支持。

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S21插入損耗特性

■ 應(yīng)用:

- 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備(高速存儲(chǔ)器測(cè)試設(shè)備、高速邏輯測(cè)試設(shè)備等)

- 探測(cè)卡

- 測(cè)量設(shè)備

■ 特性:

- 業(yè)界最小的[3]WSON4封裝:1.45mm×2.0mm(典型值),厚度=0.8mm(典型值)

- 改善高頻信號(hào)的傳輸:當(dāng)插入損耗(S21)=–3dB時(shí),f=20GHz(典型值)

- 常開(kāi)功能(1-Form-A)

■ 主要規(guī)格:

(除非另有說(shuō)明,Ta=25℃)

器件型號(hào)

TLP3475W

封裝

名稱

WSON4

尺寸(mm)

1.45í2.0(典型值),厚度=0.8(典型值)

絕對(duì)最大額定值

斷態(tài)輸出端電壓VOFF(V)

60

導(dǎo)通電流ION(A)

0.4

導(dǎo)通電流(脈沖)IONP(A)

1.2

工作溫度Topr(℃)

–40至110

耦合電氣特性

觸發(fā)LED電流IFT(mA)

最大值

3.0

導(dǎo)通電阻RON(Ω)

典型值

1.1

最大值

1.5

電氣特性

輸出電容COFF(pF)

最大值

20

開(kāi)關(guān)特性

導(dǎo)通時(shí)間tON(ms)

@RL=200Ω、

VDD=20V、

IF=5mA

最大值

0.25

關(guān)斷時(shí)間tOFF(ms)

0.2

隔離特性

隔離電壓BVS(Vrms)

最小值

300

注:

[1] 當(dāng)頻段范圍在幾百兆赫茲至上萬(wàn)兆赫茲時(shí)。

[2] 信號(hào)通過(guò)輸出MOSFET時(shí)功率衰減比(插入損耗)為–3dB的頻段。

[3] 適用于光繼電器。截至2023年10月的東芝調(diào)查。